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SEM掃描電鏡是利用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描

更新時間:2022-08-02      點擊次數:1164
  SEM掃描電鏡是利用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描,與樣品相互作用產生各種物理信號,這些信號經檢測器接收、放大并轉換成調制信號,在熒光屏上顯示反映樣品表面各種特征的圖像。掃描電鏡具有景深大、圖像立體感強、放大倍數范圍大、連續可調、分辨率高、樣品室空間大且樣品制備簡單等特點,是進行樣品表面研究的有效分析工具。通過本實驗學習,了解掃描電鏡基本機構,掌握掃描電鏡的基本使用方法和使用過程中的注意事項。
  SEM掃描電鏡圖像襯度觀察:
  1.樣品制備
  掃描電鏡的優點之一是樣品制備簡單,對于新鮮的金屬斷口樣品不需要做任何處理,可以直接進行觀察。但在有些情況下需對樣品進行必要的處理。
 ?。?) 樣品表面附著有灰塵和油污,可用有機溶劑(乙醇或丙酮)在超聲波清洗器中清洗。
 ?。?) 樣品表面銹蝕或嚴重氧化,采用化學清洗或電解的方法處理。清洗時可能會失去一些表面形貌特征的細節,操作過程中應該注意。
 ?。?) 對于不導電的樣品,觀察前需在表面噴鍍一層導電金屬或碳,鍍膜厚度控制在5-10nm為宜。
  2.表面形貌襯度觀察
  二次電子信號來自于樣品表面層5~10nm,信號的強度對樣品微區表面相對于入射束的取向非常敏感,隨著樣品表面相對于入射束的傾角增大,二次電子的產額增多。因此,二次電子像適合于顯示表面形貌襯度。二次電子像的分辨率較高,一般約在3~6nm。其分辨率的高低主要取決于束斑直徑,而實際上真正達到的分辨率與樣品本身的性質、制備方法,以及電鏡的操作條件如高匝、掃描速度、光強度、工作距離、樣品的傾斜角等因素有關,在理想的狀態下,目前可達的分辯率為1nm。

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